Elektronika     Tester elementów elektronicznych (ATmega168)        




Jest to uniwersalny tester elementów elektronicznych, pozwalający także na pomiar ich parametrów
elektrycznych (dokładność nie zawsze jest dobra). Umożliwia sprawdzanie następujących części:
rezystory i potencjometry, kondensatory, cewki, diody, tranzystory, tyrystory i triaki.
Wszystkie informacje są prezentowane na wyświetlaczu LCD 2x16 znaków. Obsługa testera odbywa się
przy użyciu tylko jednego przycisku (mikrostyku) S2 (TEST). Ogromną zaletą jest automatyczna detekcja
rozmieszczenia wyprowadzeń w sprawdzanym elemencie (np. katoda-anoda dla diody, kolektor-baza-
emiter dla tranzystora), niezależnie od sposobu jego podłączenia do punktów testowych TP1-TP3
(CON3). Badanie elementu zwykle trwa ok. 2s, jedynie pomiar dużych pojemności i indukcyjności
może potrwać dłużej.
Sercem testera jest popularny mikrokontroler ATmega168 lub ATmega328 (ten drugi zapewnia większe
możliwości i lepszą dokładność pomiarów). Oba układy mają identyczny rdzeń, różnią się jedynie ilością
pamięci. Zamieszczony program sterujący jest zmodyfikowaną przeze mnie wersją oryginalnego opro-
gramowania, którego autorem jest Karl-Heinz Kübbeler (https://github.com/svn2github/transistortester).
Modyfikacje dostosowują program sterujący do specyficznych właściwości mojej wersji testera, a także
poprawiają wygodę jego obsługi. Wprowadzone zmiany dotyczą: wartości zaprogramowanego spadku
napięcia na diodzie D1 (wynosi 300 mV przy prądzie do 100 mA), wartości progowych podczas testo-
wania napięcia zasilania DC (baterii), a także wyłączenia automatycznego wznawiania pomiarów (wy-
niki poprzedniego pomiaru znikają dopiero po naciśnięciu przycisku S2). Mój program sterujący wyróż-
niłem, zmieniając ciąg tekstowy z jego wersją na "Version 1.12k(R)". W archiwum z projektem oprócz
wsadów pamięci FLASH i EEPROM, znajdują się też pliki "Makefile" z opcjami, które zostały użyte do
kompilacji źródeł programu sterującego, oddzielnie w wersji dla ATmega168 i ATmega328.

Przy okazji testów wykryłem w oryginalnym oprogramowaniu błąd, który polegał na dwukrotnym wyświetlaniu wartości
napięcia strat kondensatorów "Vloss", ale tylko na wyświetlaczach LCD 2x16 znaków. Autor bardzo szybko dodał do
repozytorium poprawkę "remove of double Vloss output for 2-line display". Ponadto wykryłem też drobny błąd w doku-
mentacji, który również został szybko poprawiony ("correction of capacity limit for ESR measurement"). Muszę napi-
sać, że autor bardzo szczegółowo odpowiadał na zadawane pytania i wyjaśnił mi wszystkie kwestie.


Drugim ważnym układem testera jest źródło napięcia odniesienia, o wartości jak najbardziej zbliżonej do
2.5V oraz dużej stabilności temperaturowej. Tą rolę pełni popularna regulowana dioda Zenera TL431A
(U3), o wystarczającej stabilności 50ppm/C. Występuje ona w kilku wersjach (oznaczanych literą za nu-
merem "431"), które różnią się głównie zakresem napięcia referencyjnego: "A" ("AI"/"AC") = 2.47-2.52V,
"B" = 2.48-2.50V, "C"/"I" = 2.44-2.55V. Jak widać najlepiej byłoby użyć wersji "B", ale jest ona bardzo
rzadko spotykana. Dlatego spośród kilku układów w wersji "A" wybrałem taki, o wartości napięcia refe-
rencyjnego 2.49V.
Kolejnym kluczowym układem jest źródło napięcia zasilania, o wartości jak najbardziej zbliżonej do 5V.
W tej roli użyłem popularnego stabilizatora napięcia LM1117-5.0 (U2) typu LDO (Low Drop-Out). Jego
napięcie wyjściowe Vout może wynosić 4.95-5.05V. Spośród kilku egzemplarzy wybrałem taki, o war-
tości napięcia Vout=4.99V. Oczywiście dobrze by było, gdyby źródło zasilania miało większą stabilność
temperaturową, ale wśród zwykłych stabilizatorów nie ma takich układów.
Precyzyjne rezystory R12/R13 (tolerancja 1% lub lepsza), tworzą dzielnik napięcia o stosunku podziału
1:10. Służy on do pomiaru zewnętrznego, dodatniego napięcia stałego o wartości 0-49V podawanego
na złącze CON6 (VIN). Należy przy tym pamiętać o prawidłowym podłączeniu jego polaryzacji (pomyłka
spowoduje uszkodzenie mikrokontrolera). W tym dzielniku rezystancja wejściowa wynosi Rin=200k,
a impedancja wyjściowa Zout=18k. W praktyce pomiar napięcia działał dobrze z takim dzielnikiem.
Natomiast nota katalogowa mikrokontrolera ATmega168/328 mówi, że wbudowany w niego przetwornik
ADC współpracuje prawidłowo jedynie ze źródłami napięcia, o impedancji wyjściowej Zout do 10k. Aby
spełnić to wymaganie, należy zmienić wartości rezystorów R12/R13 na odpowiednio 90k/10k. Wtedy
rezystancja wejściowa zmniejszy się do Rin=100k, a impedancja wyjściowa do Zout=9k. Nietypową
wartość rezystora 90k można uzyskać łącząc szeregowo rezystory precyzyjne, o wartościach 15k+75k
lub 22k+68k.
Rezystory R3/R4 tworzą dzielnik napięcia zasilania VCC (baterii), od którego zależy dokładność pomia-
rów tego napięcia przez mikrokontroler. Dlatego powinny one mieć wartości rezystancji, jak najbardziej
zbliżone do nominalnych (najlepiej użyć rezystorów o tolerancji 1%).
Po wlutowaniu wszystkich elementów w typowej kolejności, nie wkładamy jeszcze mikrokontrolera
w podstawkę tylko mierzymy rezystancję na złączu CON6, która powinna wynosić 200k (lub 100k, jeśli
R12/R13=90k/10k). Podłączamy źródło zasilania, włączamy przełącznik S1 (POWER) i sprawdzamy,
czy między masą (piny 8 i 22) i następującymi pinami podstawki, występuje odpowiednie napięcie oraz
czy ma prawidłową polaryzację: 1/2/7/20 = +5V, 27 = +2.5V. Przy wciśniętym przycisku S2 (TEST)
napięcie na pinie 2 podstawki powinno spaść do 0V.
Następnie przy wyłączonym zasilaniu wkładamy mikrokontroler w podstawkę, włączamy zasilanie i pro-
gramujemy go odpowiednim wsadem przez złącze CON5 (ISP), przy użyciu dowolnego programatora
ISP (In-System Programming). Złącze to zawiera sygnały rozmieszczone w standardowy sposób zale-
cany przez firmę Atmel, a pokazany na schemacie ideowym. Trzeba przy tym pamiętać, że na płytce
złącze CON5 jest odwrócone o 180 stopni (do góry nogami).
Kolejnym krokiem jest ustawienie odpowiednich wartości fuse i lock bitów, które dla mikrokontrolera
ATmega168/328 powinny wynosić: FL (Fuse Low) = $F7, FH (Fuse High) = $DF/$D9, FE (Fuse Exte-
nded) = $F9/$FF, LB (Lock Bits) = $FF.
Po zaprogramowaniu mikrokontrolera właściwym wsadem (ten dla ATmega168 działa również na ATme-
ga328), należy odłączyć programator (zakłóca pomiary). Następnie trzeba potencjometrem P1 ustawić
odpowiedni kontrast na wyświetlaczu LCD tak, aby znaki były dobrze widoczne. Kolejnym krokiem jest
przeprowadzenie kalibracji testera, podczas której zmierzone wartości korygujące jego pracę, zostaną
zapisane w pamięci EEPROM mikrokontrolera. Kalibrację trzeba wykonywać po każdej zmianie w sprzę-
cie testera, np. złącz testowych TP1-TP3 lub kabli łączących je z płytką.
Tester można zasilać napięciem stałym DC=7-12V z zasilacza lub z baterii/akumulatorów, ale nie z tych
dwóch źródeł jednocześnie. Dioda D1 zabezpiecza tester przed odwrotnym podłączeniem napięcia za-
silania (występuje na niej spadek 300mV przy prądzie do 100mA). Napięcie zasilania przed diodą to DC,
a po diodzie VCC. Modelowy tester przy napięciu DC=9V pobierał 36mA prądu (niebieski wyświetlacz
LCD z podświetleniem). Tester nie ma funkcji automatycznego wyłączania zasilania, ani usypiania
mikrokontrolera.
Tester zmontowałem na płytce dwustronnej o wymiarach 82x60 mm (2 przelotki), wykonanej metodą
transferu chemicznego. W rogach płytki znajdują się cztery otwory montażowe o średnicy 3 mm, dzięki
którym tester można przykręcić do obudowy lub zamontować w nich jakieś nóżki w przypadku braku
obudowy. Dwa dodatkowe otwory 3mm na środku płytki służą do przymocowania tulejek dystansowych
(wysokość 11-12mm), do których można przykręcić wyświetlacz LCD. Płytka jest tak zaprojektowana,
aby tester mógł być używany zarówno po zamontowaniu w obudowie, jak i bez niej. Ponadto na płytce
znajdują się pola, które służą do testowania elementów SMD (trzeba je pocynować). Tester można
również zmontować na płytce jednostronnej (3 zworki) o takich samych wymiarach, ale bez pól do
badania elementów SMD.

Obsługa testera elementów elektronicznych

    Wstęp
1. Kalibracja testera
    1.1 ATmega168 i ATmega328
    1.2 ATmega328
2. Testowanie elementów
    2.1 Rezystory i potencjometry
    2.2 Kondensatory
    2.3 Cewki
    2.4 Diody
    2.5 Tranzystory
    2.6 Tyrystory i triaki
3. Pomiar zewnętrznego napięcia
    3.1 ATmega168 i ATmega328
    3.2 ATmega328
  4. Pomiar zewnętrznej częstotliwości (tylko ATmega328 po modyfikacji)
  5. Generator częstotliwości (tylko ATmega328)
  6. Generator szerokości impulsu PWM (tylko ATmega328)
  7. Pomiar pojemności i ESR kondensatorów (tylko ATmega328)
  8. Pomiar rezystorów/cewek (tylko ATmega328)
  9. Pomiar kondensatorów (tylko ATmega328)
10. Korekcja pomiaru dużych pojemności (tylko ATmega328)
11. Enkoder obrotowy (tylko ATmega328)
12. Wyświetlanie danych kalibracyjnych (tylko ATmega328)
13. Rysunki
14. Rysunki z testów elementów


Wstęp
Poniższy opis powstał na podstawie praktycznych doświadczeń i obserwacji, podczas użytkowania modelowego testera
elementów elektronicznych, wyposażonego zarówno w mikrokontroler ATmega168, jak i ATmega328. Jest on szcze-
gółowym uzupełnieniem oryginalnej dokumentacji w języku angielskim, która jest dołączona do archiwum z projektem.
Wszystkie rysunki z zawartością wyświetlacza LCD zostały wygenerowane programowo, ale pokazują one rzeczywiste
treści i wyniki pomiarów wyświetlane przez modelowy tester.

Tuż po włączeniu testera i przed każdym testem elementu inicjowanym przyciskiem S2 (TEST), w pierwszej linii wyświe-
tlacza pojawia się napis z aktualną wartością napięcia zasilania DC (baterii). Jeśli napięcie DC>7.0V, to napis ten
będzie podobny do "Bat. 9.0V OK" (rys. 1), informując o prawidłowym napięciu zasilania. Jeśli napięcie DC=6.3-7.0V,
to napis ten będzie podobny do "Bat. 7.0V weak" (rys. 2), informując o niskim napięciu zasilania, ale umożliwiającym
poprawne działanie testera. Jeśli tester jest zasilany z baterii 9V, to należy ją jak najszybciej wymienić na nową. Jeśli
napięcie DC<6.3V, to napis ten będzie podobny do "Bat. 6.2V empty!" (rys. 3), informując o nieprawidłowym napięciu
zasilania. Jeśli tester jest zasilany z baterii 9V, to należy ją natychmiast wymienić na nową.
Ponieważ użyty stabilizator U2 jest typu LDO (Low Drop-Out), tester może poprawnie pracować przy minimalnym napię-
ciu zasilania DC=6.3V. Jednak bateria 9V o takim napięciu wyjściowym nie nadaje się do dalszej eksploatacji, gdyż jest
zbyt rozładowana i nie zapewnia odpowiedniej wydajności prądowej.
W drugiej linii wyświetlacza pojawia się napis podobny do "VCC=5.00V" (rys. 1), z aktualną wartością napięcia wyjścio-
wego ze stabilizatora +5V. Po chwili napis ten zmieni się na "Testing..." (rys. 4), a następnie jeśli punkty testowe TP1-
TP3 były puste, na wyświetlaczu pojawi się napis "No, unknown, or damaged part" (rys. 5). Taki napis pojawi się rów-
nież, jeśli testowany element nie zostanie rozpoznany lub jest uszkodzony.
Podczas testowania niektórych elementów mogą być mierzone dodatkowe parametry, które nie mieszczą się na wyś-
wietlaczu LCD. Wtedy na ostatniej pozycji w drugiej linii wyświetlacza pojawia się znak "+" plus, sygnalizujący obecność
takich wartości. Po upływie 8s zostaną one automatycznie pokazane w drugiej linii wyświetlacza. Można też wyświetlić
je szybciej, naciskając przycisk S2.

W przypadku użycia mikrokontrolera ATmega328 program sterujący testera, pozwala na włączenie specjalnego menu
z dodatkowymi funkcjami. Aby włączyć to menu, należy dłużej przytrzymać wciśnięty przycisk S2, gdy na wyświetlaczu
widnieje napis "No, unknown, or damaged part" (rys. 5). Po tym pojawi się nowy napis "Selection: Transistor" (rys. 24),
który jest pierwszą pozycją menu. Pozostałe pozycje menu są następujące: "Frequency" (rys. 25), "f-Generator" (rys. 26),
"10-bit PWM" (rys. 27), "C+ESR@TP1:3" (rys. 28), "1-[]-ww-3" (rys. 29), "1-||-3" (rys. 30), "C(uF)-correction" (rys. 31),
"Rotary encoder" (rys. 32), "Selftest" (rys. 33), "Voltage" (rys. 34) oraz "Show data" (rys. 35).
Krótkie naciśnięcia przycisku S2 powodują wyświetlanie kolejnych pozycji menu w drugiej linii wyświetlacza. Po wyświe-
tleniu ostatniej pozycji, pojawia się pierwsza i tak w kółko. Aby włączyć funkcję, której odpowiada aktualnie wyświetlona
pozycja menu, należy dłużej przytrzymać wciśnięty przycisk S2. Aby wyjść z menu i wykonać test elementu, trzeba wybrać
i włączyć pozycję "Transistor" (rys. 24).

1. Kalibracja testera
W przypadku mikrokontrolera ATmega168 kalibrację można wykonać tylko jednym sposobem, opisanym w punkcie 1.1.
Natomiast w przypadku ATmega328 można to zrobić również z poziomu menu, co zostało opisane w punkcie 1.2. Nie-
skalibrowany tester można rozpoznać po pojawiającym się na wyświetlaczu znaku "_" kursora (rys. 5a).

W przypadku ATmega168 napis przypominający o wykonaniu pierwszej kalibracji nie zostanie wyświetlony.
W przypadku ATmega328 po chwili oczekiwania na wyświetlaczu pojawi się napis "Not calibrated!" (rys. 16).

Podczas kalibracji nie wolno dotykać punktów testowych TP1-TP3, ani podłączonych do nich przewodów pomiarowych.


1.1 ATmega168 i ATmega328
Trzeba zewrzeć wszystkie trzy punkty testowe TP1-TP3 i nacisnąć przycisk S2. Gdy pojawi się napis "Selftest mode... ?"
(rys. 6), należy w ciągu 2s nacisnąć przycisk S2. Po tym zostaną zmierzone i wyświetlone rezystancje połączeń między
punktami testowymi TP1/TP3, TP2/TP3 i TP1/TP2 (muszą być mniejsze niż 0.9 oma). W drugiej linii wyświetlacza pojawi
się napis podobny do "R0=.34 .34 .34" (rys. 7), a następnie "Isolate probes!" (rys. 8). Wtedy trzeba w ciągu 60s rozłą-
czyć wszystkie punkty testowe, a po chwili pojawią się zmierzone wartości wewnętrznej rezystancji wyjść portów mikro-
kontrolera, np. "Ri_Hi=22.7 Ri_Lo=20.8" (rys. 9). Rezystancja ta jest również mierzona bezpośrednio przed każdym
testem elementu (bez wyświetlania wyników). Następnie zostaną zmierzone i wyświetlone pojemności montażowe, wy-
stępujące między punktami testowymi TP1/TP3, TP2/TP3 i TP1/TP2 (muszą być mniejsze niż 190pF). Na wyświetlaczu
pojawi się napis podobny do "C0=34 34 35pF OK" (rys. 10).

W przypadku ATmega328 tak naprawdę jest mierzonych sześć wartości pojemności montażowych - trzy podczas łado-
wania (0-5V) i trzy podczas rozładowywania (5-0V). Można to sprawdzić po zakończeniu kalibracji testera, wyświetlając
dane kalibracyjne (patrz punkt 12).
W przypadku ATmega328 zostaną również zmierzone i wyświetlone pojemności montażowe, uwzględniane przy dokła-
dnych pomiarach małych pojemności (<100pF) i indukcyjności (<100uH) metodą "SamplingADC". Będą to kolejno na-
pisy podobne do: "C0samp 1:2 37.54 37.72pF", "C0samp 1:3 37.31 37.42pF", "C0samp 2:1 37.35 37.48pF", "C0-
samp 2:3 37.05 37.15pF", "C0samp 3:1 37.51 37.61pF", "C0samp 3:2 37.48 37.56pF" (rys. 17-22). Ostatni napis wy-
świetla się bardzo szybko i może nie być widoczny.

Po pojawieniu się w pierwszej linii wyświetlacza napisu "1-||-3 >100nF" (rys. 11), należy w ciągu 15s podłączyć do pun-
któw testowych TP1/TP3 kondensator, o pojemności od 100nF do 20uF. Musi to być dobrej jakości kondensator foliowy
(MKT) lub tantalowy (absolutnie nie elektrolityczny). Jego pojemność zostanie zmierzona i pokazana w drugiej linii wy-
świetlacza. Następnie zostaną zmierzone i wyświetlone wartości, korygujące pracę wewnętrznego komparatora analo-
gowego mikrokontrolera. Na wyświetlaczu pojawi się napis podobny do "REF_C=3 REF_R=-12" (rys. 12). Dopiero po
jego wyświetleniu kondensator można odłączyć od punktów testowych TP1/TP3.

W przypadku ATmega328 w pierwszej linii wyświetlacza pojawi się napis "1-||-3 10-30nF(L)" (rys. 23). Wtedy, należy
w ciągu 40s podłączyć do punktów testowych TP1/TP3 kondensator, o pojemności od 10nF do 30nF. Musi to być do-
brej jakości kondensator foliowy (MKT). Jego pojemność zostanie zmierzona i pokazana w drugiej linii wyświetlacza.
Ten kondensator będzie później używany do pomiarów małych indukcyjności (<100uH) metodą "SamplingADC". Po-
miar małych indukcyjności polega na równoległym połączeniu tego kondensatora z mierzoną cewką (patrz punkt 2.3).


1.2 ATmega328
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "Selftest" (rys. 33), co spowoduje rozpoczęcie kalibracji. Gdy pojawi się napis
"Short probes!" (rys. 36), trzeba w ciągu 30s zewrzeć wszystkie trzy punkty testowe TP1-TP3. Po tym zostaną zmierzone
i wyświetlone rezystancje połączeń między punktami testowymi TP1/TP3, TP2/TP3 i TP1/TP2 (muszą być mniejsze niż
0.9 oma). W drugiej linii wyświetlacza pojawi się napis podobny do "R0=.34 .34 .34" (rys. 37), a następnie "Isolate pro-
bes!" (rys. 8). Pozostałe czynności są takie same, jak te opisane w punkcie 1.1. Różnica polega na tym, że po zakoń-
czeniu kalibracji i wyświetleniu napisu "Version 1.12k(R) Test End" (rys. 13), następuje automatyczny powrót do menu.


Po zakończeniu kalibracji zostanie wyświetlony napis "Version 1.12k(R) Test End" (rys. 13), zawierający przy okazji wer-
sję oprogramowania sterującego. Wersję można też sprawdzić szybciej, zwierając wszystkie trzy punkty testowe TP1-
TP3 i naciskając przycisk S2. Gdy pojawi się napis "Selftest mode... ?" (rys. 6) nie naciskamy przycisku S2, a po 2s po-
jawi się napis "Version 1.12k(R) Testing..." (rys. 14) i rozpocznie się pomiar rezystancji między punktami testowymi
TP1/TP2 oraz TP2/TP3.
Jeśli skalibrowany tester zmierzy rezystancję poniżej -0.2 oma lub pojemność poniżej -20pF, względem ustalonego pod-
czas kalibracji poziomu zera dla tych wielkości, to automatycznie zresetuje się on i będzie wymagał ponownej kalibracji.
Można to rozpoznać po pojawiającym się na wyświetlaczu znaku "_" kursora (rys. 5a).

2. Testowanie elementów


2.1 Rezystory i potencjometry
Jednocześnie można testować do dwóch rezystorów lub jeden potencjometr (monofoniczny). Maksymalna wartość mie-
rzonej rezystancji wynosi 50M. Maksymalna rozdzielczość pomiaru wynosi 0.01 oma dla rezystancji poniżej 10 omów
(rys. 39).

W przypadku ATmega328 i przy podłączeniu jednego rezystora do punktów testowych TP1/TP3, tester przechodzi do
specjalnego trybu pomiaru rezystorów/cewek. Jest to sygnalizowane przez pojawienie się napisu "[RL]" na końcu pier-
wszej linii wyświetlacza (rys. 39a). W tym trybie są wykonywane ciągłe pomiary rezystancji/indukcyjności między pun-
ktami testowymi TP1/TP3. Jeśli żaden rezystor/cewka nie jest do nich podłączona, to w drugiej linii wyświetlacza poja-
wia się "?" pytajnik (rys. 29a). Aby wyjść z tego trybu, należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.


2.2 Kondensatory
Przed testowaniem kondensatorów, należy je dokładnie rozładować (w przeciwnym razie można uszkodzić tester).
Podczas badania kondensatorów tantalowych, zmiana sposobu podłączenia ich wyprowadzeń do punktów testowych
(polaryzacja) ma wpływ na wynik pomiaru. Trzeba też pamiętać, że pojemność kondensatorów elektrolitycznych mocno
zależy od ich temperatury i napięcia pracy. Jednocześnie można testować jeden kondensator, o pojemności od 25pF
do 100mF z maksymalną rozdzielczością 1pF.

W przypadku ATmega328 pojemność poniżej 100pF jest mierzona z rozdzielczością 0.01pF.

Dla kondensatorów o pojemności powyżej 5nF jest mierzone ich napięcie strat "Vloss", wyświetlane tylko jeśli jego war-
tość >0% (rys. 53). Dla kondensatorów o pojemności powyżej 20nF dodatkowo jest mierzona ich rezystancja szeregowa
ESR (Equivalent Serial Resistance) (rys. 52).

W przypadku ATmega328 i przy podłączeniu jednego kondensatora do punktów testowych TP1/TP3, tester przechodzi
do specjalnego trybu pomiaru kondensatorów. Jest to sygnalizowane przez pojawienie się napisu "[C]" na końcu pier-
wszej linii wyświetlacza (rys. 48a). W tym trybie są wykonywane ciągłe pomiary pojemności między punktami testowymi
TP1/TP3. Jeśli żaden kondensator nie jest do nich podłączony, to w drugiej linii wyświetlacza pojawia się bardzo mała
wartość pojemności montażowej (rys. 30a). Aby wyjść z tego trybu, należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.


2.3 Cewki
Jednocześnie można testować jedną cewkę (rezystancja poniżej 2.1k), o indukcyjności od 10uH do 20H z maksymalną
rozdzielczością 10uH.

W przypadku ATmega328 oprócz rezystancji i indukcyjności cewki (rys. 56a), są mierzone dodatkowe parametry:
częstotliwość rezonansowa oraz dobroć cewki (rys. 56b).
W przypadku ATmega328 pomiar indukcyjności poniżej 100uH jest możliwy w specjalnym trybie, który uruchamia się au-
tomatycznie gdy razem z testowaną cewką, zostanie połączony równolegle kondensator 10-30nF (użyty podczas kalibra-
cji). Cewka połączona równolegle z kondensatorem tworzy obwód rezonansowy LC, generujący określoną częstotliwość.
Na podstawie jej wartości oraz pojemności kondensatora jest obliczana dość dokładnie indukcyjność badanej cewki.
Wtedy w pierwszej linii wyświetlacza pojawia się zmierzona rezystancja cewki, w drugiej linii indukcyjność (wyrażona
w uH), następnie napis "if", pojemność kondensatora (wyrażona w nF) oraz znak "+" plus, sygnalizujący obecność doda-
tkowych wartości, które nie zmieściły się na wyświetlaczu (rys. 56c). Po ich pokazaniu w drugiej linii wyświetlacza, poja-
wia się zmierzona częstotliwość rezonansowa obwodu LC oraz dobroć cewki (rys. 56d).
W przypadku ATmega328 i przy podłączeniu jednej cewki do punktów testowych TP1/TP3, tester przechodzi do spe-
cjalnego trybu pomiaru rezystorów/cewek. Jest to sygnalizowane przez pojawienie się napisu "[RL]" na końcu pierwszej
linii wyświetlacza (rys. 56a). W tym trybie są wykonywane ciągłe pomiary rezystancji/indukcyjności między punktami
testowymi TP1/TP3. Jeśli żaden rezystor/cewka nie jest do nich podłączona, to w drugiej linii wyświetlacza pojawia się
"?" pytajnik (rys. 29a). Aby wyjść z tego trybu, należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.


2.4 Diody
Jednocześnie można testować do dwóch diod. Wszystkie typy diod mogą być sprawdzane: zwykłe/prostownicze, Shot-
tky, germanowe, Zenera (napięcie do 4.5V), świecące LED (w tym dwukolorowe), podczerwone (IR - Infra-Red), ultra-
fioletowe (UV - Ultra-Violet). Ponadto można badać diody w mostkach prostowniczych, złącza baza-kolektor i baza-
emiter w tranzystorach bipolarnych (NPN/PNP) oraz diody zabezpieczające w tranzystorach bipolarnych i MOSFET.
Dla pojedynczych diod są mierzone następujące parametry: spadek napięcia (Uf), pojemność w kierunku zaporowym
(C) oraz prąd wsteczny (Ir), wyświetlany tylko jeśli jego wartość >0nA.
Typ diody można rozpoznać po wartości napięcia Uf, które zwykle jest inne dla danego typu (wartości przybliżone):
300mV - Shottky, 500mV - germanowe, 700mV - zwykłe/prostownicze, <1.7 - podczerwone IR, 1.7-2.8V - świecące
LED, >2.8V - ultrafioletowe UV.

W przypadku ATmega168 pojemność diod Shottky i germanowych nie będzie zmierzona, ze względu na ich znaczny
prąd wsteczny. Wtedy zostanie wyświetlony napis "C=0fF" (rys. 64).
W przypadku ATmega328 pojemność diod jest mierzona metodą "SamplingADC" i pokazywana w dodatkowej, drugiej
linii wyświetlacza jako dwie wartości oddzielone znakiem "-" minus (rys. 62b). Pierwsza wartość pojemności jest mie-
rzona podczas zmiany napięcia z 0V do 5V (ładowanie), a druga podczas zmiany napięcia z 5V do 0V (rozładowywa-
nie). Niekiedy mogą pojawiać się ujemne wartości pojemności (rys. 65b), dotyczy to zwłaszcza diod Shottky i germa-
nowych.

Po wykryciu dwóch testowanych diod w lewym-górnym rogu wyświetlacza pokaże się napis "2*" z symbolem diody,
a w drugiej linii pojawią się zmierzone wartości napięcia Uf obydwu diod (rys. 67). Pierwsza wartość dotyczy diody,
której symbol znajduje się po lewej stronie, a druga wartość dotyczy diody z symbolem po prawej stronie. Prąd wste-
czny (Ir) nie będzie w ogóle mierzony.

W przypadku ATmega168 pojemność nie będzie w ogóle mierzona.
W przypadku ATmega328 pojemność nie będzie mierzona tylko dla diod Zenera oraz dwóch diod połączonych
równolegle w przeciwnych kierunkach (anody z katodami).

Dwukolorowa dioda LED z trzema wyprowadzeniami zostanie wykryta, jako dwie diody połączone ze sobą anodami lub
katodami (rys. 67). Dwie diody połączone równolegle w przeciwnych kierunkach (anody z katodami), też zostaną wykryte
jako dwie diody. Można je rozpoznać po tym, że dwa skrajne numery punktów testowych pokazane obok symboli diod,
są jednakowe (rys. 70). W identyczny sposób zostanie wykryta pojedyncza dioda Zenera o napięciu do 4.5V. Można ją
rozpoznać po tym, że jedna wartość napięcia Uf jest znacznie wyższa (rys. 71).
Aby ustalić położenie anody w diodzie Zenera, należy wziąć pod uwagę tylko pierwszy symbol diody (po lewej stronie)
oraz umieszczone obok niego numery punktów testowych. Pierwszemu numerowi (po lewej stronie symbolu diody) od-
powiada pierwsza wartość napięcia Uf, a drugiemu numerowi odpowiada druga wartość tego napięcia. Anoda diody
Zenera znajduje się w punkcie testowym o numerze, któremu odpowiada napięcie Uf o wartości ok. 700mV. Druga
wartość napięcia Uf zależy od nominalnego napięcia badanej diody Zenera, ale zawsze jest znacznie wyższa.

Po wykryciu trzech testowanych diod w lewym-górnym rogu wyświetlacza pokaże się napis "3*" z symbolem diody,
a w drugiej linii pojawią się zmierzone wartości napięcia Uf tylko dwóch diod (rys. 74). Pierwsza wartość dotyczy diody,
której symbol znajduje się po lewej stronie, a druga wartość dotyczy diody z symbolem po prawej stronie. Prąd wsteczny
(Ir) i pojemność (C) nie będą w ogóle mierzone.
Dwie diody połączone szeregowo w tym samym kierunku (anoda pierwszej z katodą drugiej) zostaną wykryte, jako trzy
diody (rys. 74). W tym wypadku pierwsza dioda znajduje się między punktami testowymi TP1/TP2, druga między TP2/
TP3, a trzecia (bez wyświetlonego symbolu) została wykryta między punktami TP1/TP3.

Po wykryciu czterech lub więcej diod, zostanie wyświetlony napis "part unknown or damaged" z liczbą wykrytych diod,
umieszczoną przed symbolem diody (rys. 38).
Jedna dioda połączona szeregowo z dwiema diodami połączonymi równolegle w przeciwnych kierunkach (anody z ka-
todami), zostanie wykryta jako cztery diody. Identyczny rezultat daje połączenie szeregowe zwykłej diody z diodą Zenera.
Dwie diody Zenera połączone szeregowo w tym samym kierunku (anoda pierwszej z katodą drugiej), zostaną wykryte
jako pięć diod. Te same diody połączone szeregowo, ale w przeciwnych kierunkach (anodami lub katodami), zostaną
wykryte jako sześć diod.


2.5 Tranzystory
Jednocześnie można testować jeden tranzystor. Wszystkie typy tranzystorów mogą być sprawdzane: bipolarne NPN/
PNP, MOSFET/JFET/IGBT (kanał N/P) o napięciu bramki do 5V, germanowe, Darlingtona. Należy pamiętać, że tran-
zystory z wbudowanymi rezystorami mogą nie być w ogóle wykryte, a wartości ich parametrów nie zostaną prawidłowo
zmierzone.
Dla tranzystorów bipolarnych są mierzone następujące parametry: wzmocnienie prądowe (B), prąd kolektora lub emitera
(Ic/Ie) oraz napięcie baza-emiter (Ube) (rys. 75/75a). Ponadto są również mierzone: prąd odcięcia kolektora (ICE0) przy
zerowym prądzie bazy oraz szczątkowy prąd kolektora (ICEs) przy bazie utrzymanej na poziomie emitera. Prądy te są
wyświetlane tylko, jeśli ich wartość >1uA. Tranzystory Darlingtona można rozpoznać po wyższym wzmocnieniu prądowym
(ponad 1k) i napięciu Ube (ponad 1V) (rys. 77/77a).
Dla tranzystorów MOSFET są mierzone: pojemność (C), napięcie (Vt) i rezystancja załączenia (RDS) ich bramki (rys.
79/79a). Tranzystory MOSFET ze wzbogaconym kanałem N/P są oznaczane napisem "E-MOS", a z kanałem zubożo-
nym "D-MOS". Ponadto dla tranzystorów bipolarnych i MOSFET jest wykrywana wbudowana w nie dioda zabezpiecza-
jąca, a także mierzone jest jej napięcie Uf (rys. 78/78a/78b).
Dla tranzystorów JFET są mierzone: prąd źródła (I) oraz napięcie bramki (Vg) (rys. 81). Tranzystory JFET są tak bardzo
symetryczne, że tester nie zawsze ustali właściwe położenie ich wyprowadzeń D (Drain) i S (Source). Po jednym teście
może to być "123=DGS", a po kolejnym już "123=SGD".

W przypadku ATmega168 tranzystory UJT (Uni-Junction Transistor) są rozpoznawane jako dwie diody, a tranzystory
PUT (Programmable Uni-junction Transistor) jako tranzystory bipolarne.
W przypadku ATmega328 dla rozpoznawanych prawidłowo tranzystorów UJT i PUT, są wykonywane dodatkowe testy
przy użyciu metody "SamplingADC".


2.6 Tyrystory i triaki
Jednocześnie można testować jeden tyrystor/triak. Tylko tyrystory/triaki małej mocy (o dużej czułości) zostaną prawidło-
wo wykryte i zbadane, ze względu na niską wartość prądu testowego (ok. 6mA). Dla tyrystorów/triaków jest mierzone
ich napięcie przewodzenia (Uf) (rys. 82).
Należy pamiętać, że pozostałe tyrystory/triaki mogą nie być w ogóle wykryte albo mogą być rozpoznane, jako tranzystor
NPN lub dioda. Co ciekawe, tyrystor BTP128-550 jest wykrywany jako dwie, połączone szeregowo diody ze wspólną
katodą wraz z rezystorem między ich anodami. Litera "R" na ostatniej pozycji w pierwszej linii wyświetlacza, sygnalizuje
obecność wartości jego rezystancji, która nie zmieściła się na pierwszym ekranie (rys. 83). Po upływie 28s zostanie ona
automatycznie wyświetlona na drugim ekranie (rys. 83a). Można też wyświetlić ją szybciej, naciskając przycisk S2.
W przypadku ATmega328 litera "R" jest zastąpiona jednoznakowym symbolem rezystora (rys. 83b), następnie w drugiej
linii wyświetlacza jest pokazywana zmierzona pojemność diody (rys. 83c), a na końcu ekran z wartością rezystancji (rys.
83d).
Nie posiadam żadnego wystarczająco czułego triaka do przetestowania, ale po jego wykryciu na wyświetlaczu pojawi
się napis "Triac" zamiast "Thyrist.". Reszta informacji na ekranie jest identyczna, jak w przypadku tyrystora.

3. Pomiar zewnętrznego napięcia
W przypadku mikrokontrolera ATmega168 tryb pomiaru zewnętrznego napięcia można włączyć tylko jednym sposobem,
opisanym w punkcie 3.1. Natomiast w przypadku ATmega328 można to zrobić również z poziomu menu, co zostało opi-
sane w punkcie 3.2. Przy pomiarach dodatniego napięcia stałego o wartości 0-49V podawanego na złącze CON6 (VIN),
należy pamiętać o prawidłowym podłączeniu jego polaryzacji (pomyłka spowoduje uszkodzenie mikrokontrolera).


3.1 ATmega168 i ATmega328
Włączenie trybu pomiaru zewnętrznego napięcia, następuje przez wciśnięcie i trzymanie przycisku S2 w czasie, gdy na
wyświetlaczu są pokazywane wartości napięcia zasilania DC (baterii) i napięcia wyjściowego ze stabilizatora +5V, np.
"Bat. 9.0V OK VCC=5.00V" (rys. 1).
Po tym w drugiej linii wyświetlacza pojawi się napis podobny do "Vext=0mV" (rys. 15) z aktualną wartością mierzonego
napięcia. Puszczenie przycisku S2 spowoduje wyjście z trybu pomiaru napięcia i rozpoczęcie testu elementu.


3.2 ATmega328
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "Voltage" (rys. 34), co spowoduje rozpoczęcie ciągłego pomiaru napięcia.
Na wyświetlaczu pojawi się napis "Voltage Vext=0mV" (rys. 34a) z aktualną wartością mierzonego napięcia. Aby wyjść
z trybu pomiaru napięcia i powrócić do menu, trzeba przez 7s trzymać wciśnięty przycisk S2.

4. Pomiar zewnętrznej częstotliwości (tylko ATmega328 po modyfikacji testera)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "Frequency" (rys. 25), co spowoduje rozpoczęcie ciągłego pomiaru często-
tliwości o wartości do ok. 3.75 MHz, podawanej na pin PD4 (6) mikrokontrolera. Na wyświetlaczu pojawi się napis
"f=0Hz" (rys. 25a) z aktualną wartością mierzonej częstotliwości. Maksymalna rozdzielczość pomiaru wynosi 0.001 mHz
dla częstotliwości poniżej 10 Hz. Dodatkowo dla częstotliwości poniżej 25 kHz, po wykonaniu zwykłego pomiaru jest
również mierzona szerokość impulsu (T) (minimum 10us), na podstawie której jest obliczana nowa wartość częstotli-
wości, wyświetlana na kolejnym ekranie (rys. 25b). Aby wyjść z trybu pomiaru częstotliwości i powrócić do menu,
należy nacisnąć przycisk S2.
Ponieważ pin PD4 mikrokontrolera jest używany również do sterowania wyświetlaczem LCD, aby mierzyć częstotliwość
trzeba dodać do testera obwód zbudowany z kilku elementów biernych. Jest to szczegółowo opisane w dołączonej do
archiwum, oryginalnej dokumentacji testera w języku angielskim (strona 13). Moja wersja testera nie jest przystosowana
do pomiaru częstotliwości bez wykonania tej modyfikacji. Najprostszym sposobem jest podłączenie badanego sygnału
przez rezystor 470 omów połączony szeregowo z kondensatorem 100nF, do pinu PD4 mikrokontrolera albo do pinu D4
(11) złącza CON4 (LCD), np. bezpośrednio do płytki wyświetlacza LCD.

5. Generator częstotliwości (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "f-Generator" (rys. 26), co spowoduje rozpoczęcie generowania sygnału o wy-
branej częstotliwości z zakresu 1Hz-2MHz i ze stałym wypełnieniem 50%. Na wyświetlaczu pojawi się napis "f-Generator
>1Hz+.00Hz" (rys. 26a) z aktualnie ustawioną wartością częstotliwości. Krótkie naciśnięcia przycisku S2 powodują zwię-
kszanie najbardziej znaczącej cyfry tej wartości, a dłuższe naciśnięcia powodują dodanie do niej kolejnej cyfry.
Mimo możliwości ustawienia dowolnej wartości częstotliwości wyjściowej, tester nie jest w stanie wygenerować każdej
z nich. Dlatego za wartością ustawionej częstotliwości po znaku "+"/"-" plus/minus pokazuje się wartość częstotliwości,
która jest dodawana/odejmowana do/od aktualnie ustawionej. Na przykład ustawienie częstotliwości wyjściowej na
45.555kHz, spowoduje odjęcie od niej 100Hz i w rezultacie wygenerowanie częstotliwości 45.455kHz (rys. 26b). Wszy-
stkie wartości częstotliwości powyżej 2MHz również będą odejmowane. Ustawienie częstotliwości wyjściowej na 195.5
kHz, spowoduje dodanie do niej 4.5kHz i w rezultacie wygenerowanie częstotliwości 200kHz (rys. 26c).
Sygnał wyjściowy jest dostępny na pinie PB2 (16) mikrokontrolera i trafia przez rezystor 680 omów do punktu testowego
TP2. Masa dla tego sygnału jest podłączona przez rezystor 680 omów do punktów testowych TP1 i TP3. Aby wyjść z try-
bu generatora częstotliwości i powrócić do menu, należy dłużej przytrzymać wciśnięty przycisk S2.

6. Generator szerokości impulsu PWM (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "10-bit PWM" (rys. 27), co spowoduje rozpoczęcie generowania sygnału o wy-
branym wypełnieniu z zakresu 0-99% i ze stałą częstotliwością 7812.5Hz (częstotliwość rezonatora kwarcowego X1 po-
dzielona przez 1024). Na wyświetlaczu pojawi się napis "10-bit PWM 50.0%" (rys. 27a) z aktualnie ustawioną wartością
wypełnienia. Krótkie naciśnięcia przycisku S2 powodują zwiększanie tej wartości o 1%, a dłuższe naciśnięcia o 10%.
Ustawiana wartość wypełnienia sygnału dotyczy szerokości dodatniego impulsu. Ustawienie wartości wypełnienia na
0% (rys. 27b) powoduje generowanie krótkich, dodatnich impulsów o szerokości 125ns (wypełnienie 0.1%). Aby wyjść
z trybu generatora PWM i powrócić do menu, należy dłużej przytrzymać wciśnięty przycisk S2.

7. Pomiar pojemności i ESR kondensatorów (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "C+ESR@TP1:3" (rys. 28), co spowoduje rozpoczęcie ciągłych pomiarów po-
jemności i rezystancji szeregowej ESR między punktami testowymi TP1/TP3. Jeśli żaden kondensator nie jest do nich
podłączony, to na wyświetlaczu pojawia się napis "C+ESR@TP1:3" (rys. 28a). Jednocześnie można testować jeden
kondensator, o pojemności od ok. 900nF do 50mF. Po podłączeniu odpowiedniego kondensatora na wyświetlaczu
pojawią się zmierzone wartości jego pojemności i rezystancji szeregowej ESR (rys. 28b). Aby wyjść z trybu pomiaru
pojemności/ESR kondensatorów i powrócić do menu, należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.
Ponieważ napięcie testowe wynosi tylko ok. 300mV w większości przypadków kondensatory mogą być badane w ob-
wodzie (bez ich wylutowywania). Oczywiście wcześniej należy odłączyć napięcie zasilania od tego obwodu i poczekać
na rozładowanie się wszystkich, umieszczonych w nim kondensatorów.
Dodatkowe informacje na temat testowania kondensatorów, znajdują się w punkcie 2.2.

8. Pomiar rezystorów/cewek (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "1-[]-ww-3" (rys. 29), co spowoduje rozpoczęcie ciągłych pomiarów rezystancji/
indukcyjności między punktami testowymi TP1/TP3. Jeśli żaden rezystor/cewka nie jest do nich podłączona, to w drugiej
linii wyświetlacza pojawia się "?" pytajnik (rys. 29a). Aby wyjść z trybu pomiaru rezystorów/cewek i powrócić do menu,
należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.
Dodatkowe informacje na temat testowania rezystorów/cewek, znajdują się w punktach 2.1/2.3.

9. Pomiar kondensatorów (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "1-||-3" (rys. 30), co spowoduje rozpoczęcie ciągłych pomiarów pojemności
między punktami testowymi TP1/TP3. Jeśli żaden kondensator nie jest do nich podłączony, to w drugiej linii wyświe-
tlacza pojawia się bardzo mała wartość pojemności montażowej (rys. 30a). Aby wyjść z trybu pomiaru kondensatorów
i powrócić do menu, należy nacisnąć (czasem dłużej) przycisk S2.
Dodatkowe informacje na temat testowania kondensatorów, znajdują się w punkcie 2.2.

10. Korekcja pomiaru dużych pojemności (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "C(uF)-correction" (rys. 31), co spowoduje wyświetlenie aktualnie ustawionej
wartości korygującej pomiar dużych pojemności (rys. 31a). Krótkie naciśnięcia przycisku S2 powodują zmniejszanie,
a dłuższe naciśnięcia zwiększanie tej wartości o 0.1%. Wartość korygującą można ustawiać w zakresie od -2.0% do
8.0%. Wartości dodatnie powodują zmniejszanie, a wartości ujemne zwiększanie wyników pomiaru dużych pojemności.
Do ustalenia konkretnej wartości korygującej, muszą być użyte kondensatory dobrej jakości (z parametrem Vloss do
0.1%) o pojemności powyżej 50uF.
Aby zapisać aktualnie ustawioną wartość korygującą i powrócić do menu, należy dłużej przytrzymać wciśnięty przycisk
S2. Zapisana wartość korygująca wpływa na wyniki pomiaru kondensatorów o pojemności od ok. 900nF w trybie "C+
ESR@TP1:3" (patrz punkt 7) oraz o pojemności powyżej 40uF w pozostałych trybach.
Dodatkowe informacje na temat testowania kondensatorów, znajdują się w punkcie 2.2.

11. Enkoder obrotowy (tylko ATmega328)
Ta funkcja służy do testowania enkoderów obrotowych. Przed jej włączeniem, należy podłączyć wszystkie trzy wyprowa-
dzenia enkodera do punktów testowych TP1-TP3. Następnie w menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "Rotary encoder"
(rys. 32), co spowoduje wyświetlenie napisu "Rotary encoder turn!" (rys. 32a). Wtedy należy poruszyć (nie za szybko)
pokrętłem enkodera.
Po udanym teście w drugiej linii wyświetlacza zostanie pokazane przez ok. 2s, rozmieszczenie przełączników badanego
enkodera (rys. 32b). Tester wykrywa wspólne wyprowadzenie obu przełączników oraz to, czy w pozycji indeksowanej są
one rozłączone (znak "o") lub załączone (znak "C"). W drugiej linii wyświetlacza są również pokazywane przez ok. 0.5s,
przejściowe stany przełączników enkodera między pozycjami indeksowanymi (bez wyświetlania znaku "o" lub "C").
Aby wyjść z trybu testowania enkoderów obrotowych i powrócić do menu, należy nacisnąć przycisk S2.

12. Wyświetlanie danych kalibracyjnych (tylko ATmega328)
W menu trzeba wybrać i włączyć pozycję "Show data" (rys. 35), co spowoduje wyświetlenie kolejnych ekranów zawiera-
jących: wersję oprogramowania sterującego i wartości kalibracyjne zerowej rezystancji między punktami testowymi (rys.
35a), wartości kalibracyjne wewnętrznej rezystancji wyjść portów mikrokontrolera (rys. 9), wartości kalibracyjne zerowej
pojemności między punktami testowymi (rys. 35b), wartości korygujące pracę wewnętrznego komparatora analogowego
mikrokontrolera (rys. 12), wartości kalibracyjne zerowej pojemności między punktami testowymi, uwzględniane przy
dokładnych pomiarach małych pojemności i indukcyjności metodą "SamplingADC" (rys. 17-22).
Kolejne ekrany są wyświetlane automatycznie co 15s. Można też wyświetlać je szybciej, naciskając przycisk S2.
Po wyświetleniu wszystkich ekranów następuje powrót do menu.

13. Rysunki


Rysunek 1


Rysunek 3


Rysunek 5


Rysunek 6


Rysunek 8


Rysunek 10


Rysunek 12


Rysunek 14


Rysunek 16


Rysunek 18


Rysunek 20


Rysunek 22


Rysunek 24


Rysunek 25a


Rysunek 26


Rysunek 26b


Rysunek 27


Rysunek 27b


Rysunek 28a


Rysunek 29


Rysunek 30


Rysunek 31


Rysunek 32


Rysunek 32b


Rysunek 34


Rysunek 35


Rysunek 35b


Rysunek 37

Rysunek 2


Rysunek 4


Rysunek 5a


Rysunek 7


Rysunek 9


Rysunek 11


Rysunek 13


Rysunek 15


Rysunek 17


Rysunek 19


Rysunek 21


Rysunek 23


Rysunek 25


Rysunek 25b


Rysunek 26a


Rysunek 26c


Rysunek 27a


Rysunek 28


Rysunek 28b


Rysunek 29a


Rysunek 30a


Rysunek 31a


Rysunek 32a


Rysunek 33


Rysunek 34a


Rysunek 35a


Rysunek 36


Rysunek 38


14. Rysunki z testów elementów
Poniżej znajdują się rysunki przedstawiające zawartość wyświetlacza LCD, podczas testowania poszczególnych ele-
mentów elektronicznych. Zawartość tych ekranów jest inna dla testera z mikrokontrolerem ATmega168 i ATmega328.
W nawiasie podano wartości testowanych elementów, zmierzone multimetrem uniwersalnym UNIT M890G lub UT70B.


Testowany elementATmega168ATmega328
Rezystor 1/1%
(1.0)

Rysunek 39

Rysunek 39a
Rezystor 10/5%
(10.0)

Rysunek 40

Rysunek 40a
Rezystor 100/5%
(99.7)

Rysunek 41

Rysunek 41a
Rezystor 1k/1%
(1.000k)

Rysunek 42

Rysunek 42a
Rezystor 10k/1%
(9.99k)

Rysunek 43

Rysunek 43a
Rezystor 100k/1%
(100.0k)

Rysunek 44

Rysunek 44a
Rezystor 1M/1%
(1.001M)

Rysunek 45

Rysunek 45a
Rezystor 10M/1%
(9.99M)

Rysunek 46

Rysunek 46a
Potencjometr 1k/10%
helitrim (1.044k)

Rysunek 47

Rysunek 47a
Kondensator 33pF
(32pF)

Rysunek 48

Rysunek 48a
Kondensator 470pF
(449pF)

Rysunek 49

Rysunek 49a
Kondensator 1nF
(988pF)

Rysunek 50

Rysunek 50a
Kondensator 10nF
(9.86nF)

Rysunek 51

Rysunek 51a
Kondensator 100nF
(97.7nF)

Rysunek 52

Rysunek 52a
Kondensator 1uF
(1.012uF)

Rysunek 53

Rysunek 53a
Kondensator 10uF
tantalowy (9.60uF)

Rysunek 54

Rysunek 54a


Rysunek 54b
Kondensator 100uF
elektrolityczny (110uF)

Rysunek 55

Rysunek 55a


Rysunek 55b
Cewka 47uH
(3.1 oma)

Rysunek 56

Rysunek 56a


Rysunek 56b

Rysunek 56c


Rysunek 56d
Cewka 100uH
(1.6 oma)

Rysunek 57

Rysunek 57a


Rysunek 57b
Cewka 1mH
(22.4 oma)

Rysunek 58

Rysunek 58a


Rysunek 58b
Cewka 10mH
(83.5 oma)

Rysunek 59

Rysunek 59a


Rysunek 59b
Cewka 19mH
(85.7 oma)

Rysunek 60

Rysunek 60a


Rysunek 60b
Cewka 36mH
(78.6 oma)

Rysunek 61

Rysunek 61a


Rysunek 61b
Dioda 1N4148
uniwersalna

Rysunek 62

Rysunek 62a


Rysunek 62b
Dioda 1N4003
prostownicza

Rysunek 63

Rysunek 63a


Rysunek 63b
Dioda 1N5817
Shottky

Rysunek 64

Rysunek 64a


Rysunek 64b
Dioda AAP153
germanowa

Rysunek 65

Rysunek 65a


Rysunek 65b
Dioda LED
zielona

Rysunek 66

Rysunek 66a


Rysunek 66b
Dioda LED
czerwono-zielona
ze wspólną katodą

Rysunek 67

Rysunek 67a


Rysunek 67b
Dwie diody 1N4148
połączone szeregowo
katodami

Rysunek 68

Rysunek 68a


Rysunek 68b
Dwie diody 1N4148
połączone szeregowo
anodami

Rysunek 69

Rysunek 69a


Rysunek 69b
Dwie diody 1N4148
połączone równolegle
katody z anodami

Rysunek 70

Rysunek 70a
Dioda Zenera
2.7V

Rysunek 71

Rysunek 71a
Dioda Zenera
3.9V

Rysunek 72

Rysunek 72a
Dioda Zenera
4.3V

Rysunek 73

Rysunek 73a
Dwie diody 1N4148
połączone szeregowo
katoda z anodą

Rysunek 74

Rysunek 74a
Tranzystor BC547B
bipolarny NPN

Rysunek 75


Rysunek 75a

Rysunek 75b


Rysunek 75c
Tranzystor BC557A
bipolarny PNP

Rysunek 76


Rysunek 76a

Rysunek 76b


Rysunek 76c
Tranzystor
2SA936 (A936)
Darlingtona PNP

Rysunek 77


Rysunek 77a

Rysunek 77b


Rysunek 77c
Tranzystor
BF199 (F199)
bipolarny NPN z diodą

Rysunek 78


Rysunek 78a


Rysunek 78b

Rysunek 78c


Rysunek 78d


Rysunek 78e
Tranzystor BS170
MOSFET-N z diodą

Rysunek 79


Rysunek 79a


Rysunek 79b

Rysunek 79c


Rysunek 79d


Rysunek 79e
Tranzystor VP0300M
MOSFET-P z diodą

Rysunek 80


Rysunek 80a


Rysunek 80b

Rysunek 80c


Rysunek 80d


Rysunek 80e
Tranzystor
2SK68A (K68A)
JFET-N

Rysunek 81

Rysunek 81a
Tyrystor CV12E
Rysunek 82

Rysunek 82a
Tyrystor BTP128-550
Rysunek 83


Rysunek 83a

Rysunek 83b


Rysunek 83c


Rysunek 83d


SPIS ELEMENTÓW:

Rezystory:
R1 - 27k
R2, R3 - 10k
R4 - 3.3k
R5-R7 - 680/1%
R8-R10 - 470k/1%
R11 - 2.2k
R12 - 180k/1% (90k/1%)
R13 - 20k/1% (10k/1%)

Kondensatory:
C1 - 10u/16V
C2 - 100n/16V
C3-C5 - 100n
C6 - 10u/10V
C7 - 1n
C8, C9 - 22p
C10 - 100n/63V
Potencjometry:
P1 - 10k (stojący)

Cewki:
L1 - 10uH (dławik)

Diody:
D1 - 1N5817

Rezonatory:
X1 - kwarcowy 8 MHz

Układy scalone:
U1 - ATmega168 lub 328
U2 - LM1117-5.0
U3 - TL431A
Przełączniki:
S1 - 2 pozycje, 1 sekcja (ON/OFF)
S2 - mikroprzełącznik

Złącza:
CON1, CON6, S1 - goldpin 2x1 (męskie)
CON2 - gniazdo zasilania DC-Jack
CON3 - precyzyjne SIP7 (żeńskie)
CON4 - goldpin 16x1 (żeńskie), wysokość 8-9 mm nad PCB
CON5 - goldpin 3x2 (męskie)

Inne:
U1 - podstawka DIP28 zwykła (wąska)
CON4 - wyświetlacz LCD 2x16 znaków z przylutowaną listwą
              kołkową goldpin 16x1, o wysokości 9 mm nad PCB.
2x tuleja dystansowa z gwintem wewnętrznym M2-M3,
     wysokość 11-12 mm nad PCB.
4x śruba M2-M3, długość gwintu 4-6 mm