Jest to płytka prototypowa, która służy do testowania układów scalonych w wąskich (300 mils) i szeroki-
ch (600 mils) obudowach DIP (maksymalnie 40 wyprowadzeń). Testowany układ wkłada się w uniwersa-
lną podstawkę ZIF40 (UX). Każde wyprowadzenie układu jest połączone z dwoma pinami gniazda typu
goldpin (CON1-CON2), które znajdują się obok siebie. Wpina się do nich kabelki zakończone kołkami ty-
pu goldpin, co pozwala wykonywać dowolne połączenia bez potrzeby lutowania. Dodatkowo cała płytka
jest otoczona oddzielną ścieżką, która łączy się z czterema złączami (CON3-CON6). Można połączyć
dowolny ich pin z masą (lub innym sygnałem), aby otrzymać jej rozgałęzienie na kolejnych 15 pinach
i jednocześnie, zapewnić testowanemu układowi ekranowanie.
Układ zmontowałem na płytce jednostronnej o wymiarach 50x70 mm. Jako małą ciekawostkę dodam,
że płytkę prototypową wykonałem bez trawienia (mini wiertarką z małym frezem).
SPIS ELEMENTÓW:
